目前正對(duì)行業(yè)波峰焊插件反插，漏插，等波峰焊前段插件的檢測(cè)技術(shù)，邁瑞公司研發(fā)生產(chǎn)了12000000像素的AOI檢測(cè)設(shè)備，解決了行業(yè)插件檢測(cè)前段的難題，該AOI設(shè)備主要采用了行業(yè)領(lǐng)先技術(shù)矢量分析及ＰＡＧ算法，突破和改變了原來ＡＯＩ采用的圖像對(duì)比方法，該項(xiàng)技術(shù)以獲得國家專利，

AOI設(shè)備檢測(cè)插件錯(cuò)件

錯(cuò)件，主要是用于檢測(cè)元件本體的檢測(cè)，檢測(cè)該元件是否發(fā)生錯(cuò)料。該檢測(cè)項(xiàng)是AOI設(shè)備檢測(cè)的常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)。錯(cuò)件可采用四種檢測(cè)算法，其四種檢測(cè)算法分別為TOC算法、OCV算法、Match算法和OCR算法。每個(gè)錯(cuò)件的檢測(cè)算法針對(duì)檢測(cè)項(xiàng)目的偏重不一樣。

TOC算法類的錯(cuò)件檢測(cè)，主要用于非字符類元件的錯(cuò)件檢測(cè)，該類元件主要為電容。該類檢測(cè)法是通過抽取元件的本體色，判斷元件本體色是否改變，來檢測(cè)元件的錯(cuò)件。其中元件的本體色參數(shù)，無默認(rèn)參數(shù)，是根據(jù)實(shí)際的本體色給出的色彩抽取參數(shù)。

OCV算法類的錯(cuò)件檢測(cè)，主要用于清晰字符類的錯(cuò)件檢測(cè)，該類元件主要為電阻。該類檢測(cè)法是通過獲取待測(cè)字符輪廓與標(biāo)準(zhǔn)字符的字符輪廓的擬合程度，來判斷元件是否發(fā)生錯(cuò)件。該類檢測(cè)的判定參數(shù)的默認(rèn)范圍為（0， 12）。如標(biāo)準(zhǔn)字符為“123”，待測(cè)字符為“351”，擬合返回值為28.3，判定范圍為（0， 12），則該元件發(fā)生“錯(cuò)件”。

Match類檢測(cè)算法，主要是用于模糊字符類的錯(cuò)件檢測(cè)，該類元件主要為二極管、三極管等。該類檢測(cè)算法主要是通過獲取待測(cè)字符區(qū)域與標(biāo)準(zhǔn)字符區(qū)域的相似程度，來判定元件是否發(fā)生“錯(cuò)件”。該類錯(cuò)件的判定范圍默認(rèn)為（0，32）。

OCR類檢測(cè)算法，主要是用于重要部件的元件的檢測(cè)，該類元件主要為BGA、QFP等。該類算法主要是通過識(shí)別待測(cè)字符，判定待測(cè)字符是否與標(biāo)準(zhǔn)字符一致來檢測(cè)和判斷是否發(fā)生錯(cuò)件。如標(biāo)準(zhǔn)字符為“123”，實(shí)際字符為“122”，則OCR算法判斷該類元件發(fā)生“錯(cuò)件”。

AOI檢測(cè)設(shè)備對(duì)波峰焊插件缺件得檢測(cè)

缺件，主要用于檢測(cè)元件本體是否存在，是AOI常規(guī)檢測(cè)中不可或缺的檢測(cè)項(xiàng)。該類檢測(cè)采用的檢測(cè)算法有TOC、Match、OCV、OCR、Length、Histogarm等檢測(cè)算法。其中TOC、Match、OCV、OCR與錯(cuò)件的使用一致。

Length算法主要是通過檢測(cè)Chip件（電容）本體的長(zhǎng)度，或者電極的長(zhǎng)度，來判斷元件是否發(fā)生缺件。該算法檢測(cè)主要應(yīng)用于爐前檢測(cè)、紅膠檢測(cè)。Length算法的判定參數(shù)的默認(rèn)范圍為（42， 58）。見下圖：

上圖為L(zhǎng)ength的外距測(cè)量法，檢測(cè)點(diǎn)的程度為98，標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)的長(zhǎng)度為95，則返回值為53，其返回值的計(jì)算公式如下：

                 返回值 = 檢測(cè)點(diǎn)的實(shí)際長(zhǎng)度 – 檢測(cè)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度 + 50

Length的判定范圍為（42， 58），則缺件檢測(cè)結(jié)果為“OK”。

Histogram類的檢測(cè)算法，主要是通過檢測(cè)Chip件元件的焊點(diǎn)的亮度是否超出范圍來判斷是否發(fā)生缺件。該類算法應(yīng)用于爐后檢測(cè)。其默認(rèn)判定范圍為（0， 120），如下：

上圖【比率】為100%，該項(xiàng)檢測(cè)就是均值算法。

波峰焊插件極性反插

極性反，是AOI檢測(cè)設(shè)備對(duì)插件極性元件方向的必需檢測(cè)項(xiàng)。檢測(cè)極性反可選擇的算法有TOC、Match、OCV、OCR和Histogram算法。其中TOC、Match、OCV、OCR的檢測(cè)算法與錯(cuò)件一致。Histogram類檢測(cè)算法，采用了最大值（最小值）來檢測(cè)元件是否發(fā)生極性反現(xiàn)象。在極性元件中存在極性標(biāo)識(shí)，該極性標(biāo)志的亮度明顯要大于（小于）元件的本體亮度，可采用最大值（最小值）來檢測(cè)判斷元件是否發(fā)生極性反。如極性元件存在一高亮區(qū)域，該亮度區(qū)域的亮度要大于200，則可設(shè)定判定范圍（200， 255），采用最大值算法來進(jìn)行檢測(cè)，如下：

上圖選擇【比率】為5，檢測(cè)模式為【Max】，返回值為243，則該元件的方向OK。

1.4.6.  短路

短路檢測(cè)，是AOI檢測(cè)中一種最常見的檢測(cè)項(xiàng)。短路檢測(cè)主要應(yīng)用于IC類的IC腳之間的檢測(cè)、波峰焊元件之間的檢測(cè)等。短路檢測(cè)采用的算法為“Short”，該算法中分為“投影法”和“色彩抽取法”等2種檢測(cè)方式，2種檢測(cè)方式分別具備不同的檢測(cè)意義。

投影法，主要檢測(cè)IC類的短路，并且IC腳之間無白色絲印干擾。該類檢測(cè)，主要是檢測(cè)IC腳之間的亮度是否發(fā)生突變性變化（短路現(xiàn)象），如下：

上圖為投影類短路檢測(cè)法的效果處理圖，其相關(guān)參數(shù)如下：

上述參數(shù)，一般狀態(tài)采用“自動(dòng)參數(shù)”獲取自動(dòng)短路參數(shù)。

色彩抽取類短路檢測(cè)，是通過消除檢測(cè)區(qū)域之間的背景，通過分析檢測(cè)區(qū)域之間是否存在非背景成分相連，來判定元件是否發(fā)生短路。該類檢測(cè)是爐后IC、波峰焊檢測(cè)中最常用的短路檢測(cè)算法。該類檢測(cè)用到了一組消除背景參數(shù)，如下：

上圖中的參數(shù)的含義如下：

通過設(shè)定以上參數(shù)，來消除短路區(qū)域之間的背景成分。若還存在未消除的色彩背景時(shí)，此時(shí)增加背景抽取參數(shù)，來消除背景參數(shù)，用到算法“TOC”。